Microscopía AFM-in-SEM

Productos

Análisis correlativo avanzado a nanoescala
con integración AFM y SEM en un solo sistema.

Análisis correlativo avanzado a nanoescala con integración AFM y SEM en un solo sistema.

LiteScope

Microscopio AFM integrado en un SEM para análisis y mediciones in situ de alta precisión.

Beneficios

Análisis AFM y SEM simultáneo.
Flujo de trabajo rápido y eficiente.
Alta resolución y personalización avanzada.

Análisis AFM y SEM simultáneo.
Flujo de trabajo rápido y eficiente.
Alta resolución y personalización avanzada.

Sobre el Fabricante

Empresa especializada en microscopía correlativa AFM-in-SEM,
desarrolladora del sistema LiteScope para análisis avanzados a
nanoescala. En Perú, NANO INSTRUMENTS es distribuidor
autorizado.

Empresa especializada en microscopía correlativa AFM-in-SEM, desarrolladora del sistema LiteScope para análisis avanzados a nanoescala. En Perú, NANO INSTRUMENTS es distribuidor autorizado.

Aplicaciones

Ciencia de materiales.
Ciencias de la vida y biomédica.
Baterías y energía.
Semiconductores.

Ciencia de materiales.
Ciencias de la vida y biomédica.
Baterías y energía.
Semiconductores.

Características Técnicas

Resolución nanométrica de alta precisión.
Integración AFM y SEM en un solo sistema.
Análisis in situ y correlativo.
Flujo de trabajo automatizado con IA.
Hardware abierto y personalizable.

Resolución nanométrica de alta precisión.
Integración AFM y SEM en un solo sistema.
Análisis in situ y correlativo.
Flujo de trabajo automatizado con IA.
Hardware abierto y personalizable.