

















Resolución desde 1.8 nm a 1.0 kV y hasta 0.6 nm a 15 kV según modelo.
Voltaje de aceleración optimizado para análisis de bajo y alto voltaje.
Cañón de electrones de filamento de tungsteno o emisión de campo (FE-SEM).
Detectores SE, BSE e In-Lens para máxima calidad de imagen.
Tecnología de bajo vacío para muestras no conductoras.
Funciones automáticas de enfoque, brillo, contraste y corrección de astigmatismo.
Tecnología avanzada de óptica electrónica Super Tunnel.
Plataforma expandible compatible con EDS, EBSD, CL y otros accesorios analíticos.
Platina motorizada de alta precisión para análisis avanzados.
Captura de imágenes de ultra alta resolución para investigación y control de calidad.