Nano Instruments

Productos

Microscopio Electrónico de Barrido de Piso

Microscopía electrónica compacta
para análisis y caracterización avanzada.
Microscopía electrónica compacta para análisis y caracterización avanzada.

SEM2100

SEM compacto y fácil de usar
para análisis e investigación.

Beneficios

  • Resolución de 3 nm.
  • Interfaz intuitiva.
  • Funciones automáticas integradas.
Resolución de 3 nm.
Interfaz intuitiva.
Funciones automáticas integradas.

SEM3200

SEM versátil con excelente
rendimiento a bajo voltaje.

Beneficios

  • Mejor calidad de imagen.
  • Doble ánodo de alta eficiencia.
  • Amplia capacidad de expansión.
Mejor calidad de imagen.
Doble ánodo de alta eficiencia.
Amplia capacidad de expansión.

SEM3300

SEM de bajo voltaje con
calidad cercana a un FE-SEM.

Beneficios

  • Alta resolución.
  • Detector Inlens avanzado.
  • Mayor estabilidad operativa.
Alta resolución.
Detector Inlens avanzado.
Mayor estabilidad operativa.

SEM4000X

FE-SEM de alta resolución
para investigación avanzada.

Beneficios

  • Resolución de 0,9 nm.
  • Tecnología multidetector.
  • Captura rápida de imágenes.
Resolución de 0,9 nm.
Tecnología multidetector.
Captura rápida de imágenes.

SEM4000Pro

FE-SEM analítico ideal
para muestras complejas.

Beneficios

  • Alto rendimiento analítico.
  • Modo bajo vacío.
  • Excelente estabilidad
Alto rendimiento analítico.
Modo bajo vacío.
Excelente estabilidad

SEM5000Pro

FE-SEM optimizado para
nanotecnología y materiales sensibles.

Beneficios

  • Resolución de 1,1 nm.
  • Menor daño en muestras.
  • Alta estabilidad de imagen.
Resolución de 1,1 nm.
Menor daño en muestras.
Alta estabilidad de imagen.

SEM5000X

FE-SEM de ultra alta resolución para
semiconductores y nanomateriales.
FE-SEM de ultra alta resolución para semiconductores y nanomateriales.

Beneficios

  • Resolución de 0,6 nm.
  • Tecnología Duo-Dec.
  • Máxima precisión y estabilidad.
Resolución de 0,6 nm.
Tecnología Duo-Dec.
Máxima precisión y estabilidad.

HEM6000

SEM ultrarrápido para
imágenes de grandes áreas.

Beneficios

  • Captura 5 veces más rápida.
  • Alta resolución nanométrica.
  • Automatización avanzada.
Captura 5 veces más rápida.
Alta resolución nanométrica.
Automatización avanzada.

Sobre el Fabricante

CIQTEK es una empresa china especializada en tecnologías de medición de precisión cuántica, desarrolladora de soluciones avanzadas para empresas, universidades e instituciones a nivel mundial. Su portafolio incluye equipos de resonancia magnética, computación cuántica, instrumentación analítica y microscopía electrónica de barrido (SEM), con modelos como SEM2100, SEM3200, SEM4000PRO y SEM5000X. En Perú, NANO INSTRUMENTS es el distribuidor autorizado de la marca.

Aplicaciones

  • Ciencia de Materiales
  • Semiconductores y Microelectrónica
  • Nanomateriales
  • Metalurgia
  • Geología y Minería
  • Energía
  • Química
  • Farmacéutica
  • Ciencias Ambientales
  • Investigación Académica
Ciencia de Materiales
Semiconductores y Microelectrónica
Nanomateriales
Metalurgia
Geología y Minería
Energía
Química
Farmacéutica
Ciencias Ambientales
Investigación Académica

Características Técnicas

  • Resolución desde 1.8 nm a 1.0 kV y hasta 0.6 nm a 15 kV según modelo.
  • Voltaje de aceleración optimizado para análisis de bajo y alto voltaje.
  • Cañón de electrones de filamento de tungsteno o emisión de campo (FE-SEM).
  • Detectores SE, BSE e In-Lens para máxima calidad de imagen.
  • Tecnología de bajo vacío para muestras no conductoras.
  • Funciones automáticas de enfoque, brillo, contraste y corrección de astigmatismo.
  • Tecnología avanzada de óptica electrónica Super Tunnel.
  • Plataforma expandible compatible con EDS, EBSD, CL y otros accesorios analíticos.
  • Platina motorizada de alta precisión para análisis avanzados.
  • Captura de imágenes de ultra alta resolución para investigación y control de calidad.

Resolución desde 1.8 nm a 1.0 kV y hasta 0.6 nm a 15 kV según modelo.

Voltaje de aceleración optimizado para análisis de bajo y alto voltaje.

Cañón de electrones de filamento de tungsteno o emisión de campo (FE-SEM).

Detectores SE, BSE e In-Lens para máxima calidad de imagen.

Tecnología de bajo vacío para muestras no conductoras.

Funciones automáticas de enfoque, brillo, contraste y corrección de astigmatismo.

Tecnología avanzada de óptica electrónica Super Tunnel.

Plataforma expandible compatible con EDS, EBSD, CL y otros accesorios analíticos.

Platina motorizada de alta precisión para análisis avanzados.

Captura de imágenes de ultra alta resolución para investigación y control de calidad.